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电子产品可靠性及老化测试简介

2011-12-23 08:59:05  摩尔实验室  浏览次数:903  文字大小:【】【】【

    为了验证终端产品的性能寿命,通常需要设计一系列的可靠性实验项目,最真实的模拟产品在实际使用中的场景,通过实验的结果评估产品的各方面性能,然而实验项目多种多样,如何合理的安排实验项目的顺序,以及分配项目样品的数量,从而达到最优的实验效果,是一个值得研究的课题。本文我们将对电子产品的可靠性及老化试验的分类,做一提纲性的说明。

 
                      图一:摩尔实验室可靠性测试实验室场景

    摩尔实验室(MORLAB)在手机等电子产品可靠性测试方面积累了大量的实践经验,在此总结了相关的实验项目同大家分享,可靠性实验主要可分为7个类型(图二),我们将详细介绍各个类型所涉及的实验项目,顺序以及样品所需数量。


                        图二:可靠性实验主要可分为7个类型

    结构可靠性老化实验链(通常需16 个样品):

    加速老化实验链(通常需16 个样品):
 

    接口老化实验链(通常需2个样品):
 

    防护等级测试链(通常需12 个样品):
 

    包装可靠性老化实验链(3 套包装):
 

    针对以上具体实验项目的标准及相关测试方法,可联系就近的摩尔实验室相关技术人员,我们愿竭诚为您服务。

    如需更多资料,请发信到以下地址:info_cd@morlab.cn或致电:028-85147866。

编辑:lp.chen


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