繁体中文
首页 关于摩尔 服务项目 实验室环境 摩尔通讯 人才招聘 展会/研讨会 留言本 联系我们
 

更多最新新闻

· 蓝牙连接的过程
· RF一致性测试详解
· GPS测试详解
· LTE话音技术的三大方
· USB2.0 一致性测试介
· GPS全球导航系统测试
· 对讲机测试介绍
· CCC认证执行新版标准
· 蓝牙EDR载波频率稳定
· LTE的SAR测试
 

USB2.0 一致性测试介绍

2013-07-19 17:16:58  来源:摩尔实验室  浏览次数:143  文字大小:【】【】【
关键字:USB2.0 一致性测试

一、测试仪器:


      2.5GHz带宽、40GS/s采样率、最大256Mpts的可分析存储深度X-Stream II流式结构——速度快于其它示波器10-100具备最深的测量参数工具箱、函数运算工具箱独特的TriggerScan异常捕获技术使得示波器能在单位时间内捕获更多的异常优越的瞬时响应能力,15.3英寸宽屏WXGA彩色触摸屏显示器


二、测试夹具:


      TF-USB-B(一致性测试板,能够完成USB2.0的一致性测试功能;负载板能够完成Droop电压和Drop电压相关测试)


三、测试软件:

      QualiPHY测试软件的USB测试模板,能够完成低速率Device、全速率和高速率HostDevice、HubUSB一致性测试,支持全部USB-IF组织制定的一致性测试规范。


四、测试项目列表


测试项目

测试指标

标准值

对应标准号

参考标准

Signal Rate
信号速率测量结果

Signal Rate
信号速率

479.76Mb/sx480.24Mb/s

7.1.11 Data Signaling Rate

Universal Serial Bus Specification Revision 2.0

Eye Result
眼图模板测量结果

Eye Violations
眼图电压

x=0

7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time
7.1.3 Cable Skew

Consecutive Jitter
Min
最小连续抖动

x100ps

Consecutive Jitter
Max
最大连续抖动

x100ps

Consecutive RMS
Jitter
RMS
连续抖动

x100ps

Paired JK Jitter Min
JK
配对最小抖动

x100ps

Paired JK Jitter Max
JK
配对最大抖动

x100ps

Paired JK RMS Jitter
JK
配对RMS抖动

x100ps

Paired KJ Jitter Min
KJ
配对最小抖动

x100ps

Paired KJ Jitter Max
KJ
配对最大抖动

x100ps

Paired KJ RMS Jitter
KJ
配对RMS抖动

x100ps

Rising Edge Rate
Result
边沿上升时间和速率测量结果

Rising Edge Rate Min
边沿上升最小速率

x1600MV/s

7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time

Universal Serial Bus Specification Revision 2.0

Rise Time Max
(equivalent)
最大上升时间

x500ps

Rising Edge Rate
Max
边沿上升最大速率

x1600MV/s

Rise Time Min
(equivalent)
最小上升时间

x500ps

Rising Edge Rate
Mean
边沿上升速率测量值

x1600MV/s

Rise Time Mean
(equivalent)
上升时间测量值

x500ps

Falling Edge Rate
Result
边沿下降时间和速率测量结果

Falling Edge Rate
Min
边沿下降最小速率

x1600MV/s

7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time

Universal Serial Bus Specification Revision 2.0

Fall Time Max
(equivalent)
最大下降时间

x500ps

Falling Edge Rate
Max
边沿下降最大速率

x1600MV/s

Fall Time Min
(equivalent)
最小下降时间

x500ps

Falling Edge Rate
Mean
边沿下降速率测量值

x1600MV/s

Fall Time Mean
(equivalent)
下降时间测量值

x500ps

Edge Rate Match
边缘速率匹配

符合模板要求

Edge Monotonicity
Result
边沿单调测量结果

Edge Monotonicity
Result
边沿单调测量结果

符合模板要求

7.1.2.2 High-speed Signaling Eye Patterns and Rise and Fall Time

Universal Serial Bus Specification Revision 2.0

EOP Width Result
结束包位宽测量结果

EOP Width
结束包位宽

7.5bitsx8.5bits

7.1.13.2.2 High-speed EOP

Device Chirp K Latency
驱动周纠K码延迟时间

2.50μsx7.00ms

7.1.7.5 Reset Signaling

Chirp K Duration
周纠K码周期时间

1.00msx7.00ms

HS Turn On Time After Chirp
周纠后高速率开启时间

x500.0μs

Suspend Timing
暂停时间

3.000msx3.125ms

7.1.7.6 Suspending

Suspend D- Volts
D-
暂停电压

x700.0mV

Suspend D+ Volts
D+
暂停电压

2.70Vx3.60V

HS SOF After Resume
暂停后恢复到高速SOF

符合模板要求

7.1.7.7 Resume

Universal Serial Bus Specification Revision 2.0

Resume Amplitude D-
D-
恢复幅值

x700mV

Resume Amplitude D+
D+
恢复幅值

x700mV

Reset Time
复位时间

3.10msx6.00ms

7.1.7.5 Reset Signaling

Suspend to Reset Time
暂停后复位时间

2.5μsx6.0000ms

J Voltage D+
D+ J
电压

360.0mVx440.0mV

7.1.1.3 High-speed (480 Mb/s) Driver Characteristics

J Voltage D-
D- J
电压

 -10.0mVx10.0mV

K Voltage D+
D+ K
电压

 -10.0mVx10.0mV

K Voltage D-
D- K
电压

360.0mVx440.0mV

SE0 D- Voltage
D- SEO
电压

 -10.0mVx10.0mV

SE0 D+ Voltage
D+ SEO
电压

 -10.0mVx10.0mV

VBUS Voltage Before Enumeration
列举前的电源线VBUS反馈电压值

x400mV

D+ Voltage Before Enumeration
列举前的数据线D+反馈电压值

x400mV

D- Voltage Before Enumeration
列举前的数据线D-反馈电压值

x400mV

VBUS Voltage After Enumeration
列举后的电源线VBUS反馈电压值

x400mV

D+ Voltage After Enumeration
列举后的数据线D+反馈电压值

x400mV

D- Voltage After Enumeration
列举后的数据线D-反馈电压值

x400mV


编辑:vphone


相关文章
TD-SCDMA要发展,必须引入第三方测试机构